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焦磷酸盐电镀铜工艺霍尔槽试片光亮区偏小的原因??
2024-07-12
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        在焦磷酸盐电镀铜工艺中,为了评估电镀溶液性能和工艺参数,我们可以通过霍尔槽试验进行测试,然而,在霍尔槽试验过程中会出现一些小问题,如试片镀层光亮区域偏小时,是什么原因造成的?我们该怎么解决呢?                                                                                     
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      镀层光亮区域小的可能原因与解决方案

       1. 电流密度不均匀:

        霍尔槽试验中,焦磷酸盐电镀铜的电流密度的分布对镀层质量至关重要。如果电流密度过高或过低,可能导致镀层光亮区域缩小。解决方案是在试验过程中调整电流密度,确保其处于适当的范围内(通常为1-5安培/平方分米)。 

       2. 电解液成分不平衡:

       电解液中焦磷酸铜或焦磷酸钾的浓度不当,会影响镀层光亮度。应定期对电解液进行分析和调整,以确保其化学成分在合适范围内。

       3. 添加剂失效或不足:

        电镀过程中,焦铜光亮剂的浓度对镀层光亮度有重要影响。添加剂不足或老化失效会导致镀层光亮区域减小。应定期补充和更换添加剂,维持其有效浓度。

        4. 溶液温度不适宜:

        温度在电镀过程中起至关重要的作用。如果溶液温度过高或过低,也会影响镀层的光亮区域。一般建议控制在20-30摄氏度之间,并使用恒温设备保持温度稳定。

        5. 搅拌不充分:

        溶液中的离子浓度和温度分布不均一会导致镀层光亮度不佳。搅拌不充分会让这些问题加剧。应确保电解液的充分搅拌,甚至可以考虑使用机械搅拌或空气搅拌提高均匀性。

        结论

       综上所述, 在焦磷酸盐电镀铜工艺中,通过霍尔槽试验中,我们可以发现造成试片镀层光亮区域偏小的原因分别为电流密度不均匀,电解液成分不平衡,添加剂失效或不足,溶液温度不适宜,搅拌不充分,我们可以仔细分析和调整电镀工艺中的各项参数作适当的调整,这样不仅提升了电镀工艺的稳定性,还提高了镀层的质量。


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